Die Sicherheit und Zuverlässigkeit von Systemen muss während der Konzeptionierung und Entwicklung geplant werden, kann später jedoch nur durch Analysen verifiziert werden. Dazu werden verschiedene Analysemethoden zur Informationssicherheit und mikroelektronischen Eigenschaften weiterentwickelt und für Anforderungen aus dem Bereich der Informationssicherheit angepasst. Die Analysetiefe kann dabei von einfachen Analysen an der Oberfläche bis hin zu Analysen von Gruppen weniger Transistoren skaliert werden.
Forschungsthemen:
- Analyse der Informationssicherheit von eingebetteten Systemen mittels Seitenkanal- und Fehlerangriffen.
- Detektion von Counterfeiting und Reverse Engineering von Schaltungen
- Zuverlässigkeitsanalysen und ESD
Angebote:
- Design für Test Konzepte für eingebettete Systeme
- Analysen während der Design-Phase von eingebetteten Systemen
- Analyse von Prototypen und Rückläufern